γ能谱分析方法样品的测量方法使用高能量分辨率的半导体探测器多道X射线能谱仪分析样品，主要测量样品中受激发元素发射的X射线特征能量峰，与标准样品比较，按（4-37）式计算元素含量。仪器刻度多道X射线能量谱的刻度与γ能谱仪的刻度要求是一样的，包括能量刻度和效...